Manual de óptica de partículas cargadas.

Handbook of charged particle optics - Búsqueda de Google

Handbook of charged particle optics / edited by Jon Orloff. — 2nd ed. Taylor & Francis ; CRC Press, ISBN-13: 978-1-4200-4554-3. DESCARGAR LIBRO

El propósito de la segunda edición de este manual, al igual que el de la primera, es proporcionar un lugar apropiado para encontrar respuestas a muchas, si no a todas, las preguntas relativas a la física básica de cómo y por qué los instrumentos de haz enfocado de alta resolución funcionan de la manera en que lo hacen. Este es un libro de referencia para los usuarios y diseñadores de instrumentos.

Jon Orloff es profesor emérito del Departamento de Ingeniería Eléctrica e Informática de la Universidad de Maryland en College Park, donde estuvo en la facultad de 1993 a 2006. De 1978 a 1993 fue profesor de física aplicada en el Instituto de Graduados de Oregón.
Ha trabajado en el desarrollo y la aplicación de la tecnología de haz de iones enfocados de alta resolución, y en aplicaciones de fuentes de iones y electrones de alto brillo. Es autor o coautor de 85 artículos, la mayoría relacionados con la tecnología de haces de iones enfocados, así como de una monografía, High Resolution Focused Ion Beams: FIB y sus aplicaciones (con L. Swanson y M. Utlaut).

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